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Depth profiles of aluminum component in sequential infiltration synthesis-treated electron beam resist films analyzed by time-of-flight secondary ion mass spectrometry
用飞行时间二次离子质谱分析顺序渗透合成处理的电子束抗蚀剂膜中铝组分的深度分布
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Shunya Ito; Yuki Ozaki; Takahiro Nakamura; Masaru Nakagawa 出版日期:2020-04-16 |
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