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Mechanical-electrical synergy damage effect on GaN HEMT under high-power microwave
高功率微波对GaN HEMT的机电协同损伤效应
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期刊:Science China Technological Sciences 作者:Lei Wang; ChangChun Chai; TianLong Zhao; FuXing Li; YingShuo Qin; YinTang Yang 出版日期:2023-07-12 |
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