Applying dynamic voltage stressing to reduce early failure rate

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标题	Applying dynamic voltage stressing to reduce early failure rate 施加动态电压应力降低早期故障率相关领域磨合静态随机存取存储器故障率还原（数学）炸薯条电压晶体管计算机科学电子工程可靠性工程工程类电气工程数学几何学
网址	http://dx.doi.org/10.1109/RELPHY.2001.922878
DOI	10.1109/RELPHY.2001.922878 doi
求助人	成成在 2025-01-14 19:53:53 发布自上海，悬赏 10 积分
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