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 Structural and thermal analysis of polycrystalline diamond thin film grown on GaN-on-SiC with an interlayer of 20 nm PECVD-SiN 20nm PECVD-SiN夹层GaN-on-SiC多晶金刚石薄膜的结构和热分析
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Mei Wu; Ke Cheng; Ling Yang; Bin Hou; Xinchuang Zhang; et al 出版日期：2022-03-21 |
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