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![]() P-20:通过插入In-Ga-Zn-O浮栅提高In-Ga-Zn-O基铁电薄膜晶体管的存储窗口和耐久性
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期刊:SID Symposium Digest of Technical Papers 作者:SeungYoon Shin; Yuseong Jang; Junhyeong Park; Soo‐Yeon Lee 出版日期:2024-06-01 |
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