| 标题 |
 Study on the effect of sputtering pressure on the physical properties of InN films on ITO substrate and the dependence of carrier transport characteristics of Li-doped p-NiO/n-InN heterojunction on the environmental temperature 溅射压强对ITO衬底上InN薄膜物理性能的影响及掺锂p-NiO/n-InN异质结载流子输运特性对环境温度依赖性的研究
相关领域
溅射
材料科学
氮化铟
异质结
光电子学
基质（水族馆）
兴奋剂
溅射沉积
带隙
透射率
Crystal（编程语言）
铟
薄膜
氮化物
纳米技术
图层（电子）
海洋学
地质学
计算机科学
程序设计语言
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Vacuum 作者：Zhen He; Haoxuan Huang; Jian Huang; Guojiao Xiang; Jinming Zhang; et al 出版日期：2024-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
JY
寻道图强
好困
lin
Singularity
Cloud
123
贰鸟
shinysparrow
坚强的广山
王十
宁少爷
夏来
完美的天空
CipherSage
菠菜
穆紫
Clover04
Xtals
Liar
皖公网安备34019202002308
