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Fully integrated hybrid silicon two dimensional beam scanner
全集成混合硅二维光束扫描仪
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期刊:Optics Express 作者:Jared Hulme; J. K. Doylend; Martijn J. R. Heck; J. D. Peters; Michael L. Davenport; et al 出版日期:2015-02-25 |
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