标题 |
A new Spk-based sample-size tightening sampling system for lot determination
一种新的基于Spk的批量抽样系统
相关领域
采样(信号处理)
样品(材料)
质量(理念)
样本量测定
计算机科学
功率(物理)
灵敏度(控制系统)
统计
数学
可靠性工程
工程类
电子工程
电信
哲学
化学
物理
认识论
色谱法
量子力学
探测器
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Quality Technology & Quantitative Management 作者:Shih‐Wen Liu; Zih‐Huei Wang 出版日期:2023-03-21 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|