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 Reliability of power cycling for IGBT power semiconductor modules IGBT功率半导体模块功率循环的可靠性
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期刊：Conference Record of the 2002 IEEE Industry Applications Conference. 37th IAS Annual Meeting (Cat. No.02CH37344) 作者：Akira Morozumi; Kodai Yamada; Toru MIYASAKA; Y. Seki 出版日期：2002-11-13 |
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