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Mitigating pattern collapse in high-resolution extreme ultraviolet lithography using the organic dry development rinse process
使用有机干显影冲洗工艺减轻高分辨率极紫外光刻中的图案塌陷
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极紫外光刻
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期刊:Journal of Micro/Nanopatterning Materials and Metrology 作者:Seonggil Heo; Seungjoo Baek; Mihir Gupta; Hyo Seon Suh; Kodai Kato; et al 出版日期:2024-09-09 |
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