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 Structural and electronic characterization of (2,33) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers 4H-SiC外延层中（2,33）棒状层错的结构和电子表征
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Massimo Camarda; Andrea Canino; Antonino La Magna; Francesco La Via; Feng Ge; et al 出版日期：2011-01-31 |
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