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 Reliable Operation in High‐Mobility Indium Oxide Thin Film Transistors 高迁移率氧化铟薄膜晶体管的可靠工作
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
铟
光电子学
氧化物
晶体管
电压
图层（电子）
电气工程
纳米技术
工程类
冶金
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期刊：Small methods 作者：Prashant R. Ghediya; Yusaku Magari; Hikaru Sadahira; Takashi Endo; Mamoru Furuta; et al 出版日期：2024-08-03 |
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