High Temperature and High Humidity Reliability Evaluation of Large-Area 1200V and 1700V SiC Diodes

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标题	High Temperature and High Humidity Reliability Evaluation of Large-Area 1200V and 1700V SiC Diodes 大面积1200V和1700V SiC二极管高温高湿可靠性评估相关领域肖特基二极管材料科学光电子学二极管可靠性（半导体）碳化硅击穿电压电气工程高压电压工程物理电子工程功率（物理）工程类物理复合材料量子力学
网址	https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118095
DOI	10.1109/irps48203.2023.10118095 doi
其它	期刊：作者：In-Hwan Ji; Anoop Mathew; Jae Hyung Park; Neal Oldham; Matthew McCain; et al 出版日期：2023-03-01
求助人	wangli 在 2024-10-17 18:49:31 发布自天津，悬赏 10 积分
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