标题 |
High Temperature and High Humidity Reliability Evaluation of Large-Area 1200V and 1700V SiC Diodes
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DOI |
10.1109/irps48203.2023.10118095
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期刊: 作者:In-Hwan Ji; Anoop Mathew; Jae Hyung Park; Neal Oldham; Matthew McCain; et al 出版日期:2023-03-01 |
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