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Pattern roughness analysis using power spectral density: application and impact in photoresist formulation
利用功率谱密度分析图案粗糙度:在光刻胶配方中的应用和影响
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期刊:Journal of Micro/Nanopatterning Materials and Metrology 作者:Charlotte Cutler; James W. Thackeray; Peter Trefonas; Dan B. Millward; Choong-Bong Lee; et al 出版日期:2021-01-28 |
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