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Correlation between optoelectronic and structural properties and epilayer thickness of AlN
AlN外延层厚度与光电性能和结构性能的关系
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期刊:Applied Physics Letters 作者:B. N. Pantha; R. Dahal; M. L. Nakarmi; Neeraj Nepal; J. Li; et al 出版日期:2007-06-11 |
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