标题 |
Structural and electrical characterization of thick GaN layers on Si, GaN, and engineered substrates
Si、GaN和工程衬底上厚GaN层的结构和电学表征
相关领域
材料科学
光电子学
氮化镓
二极管
宽禁带半导体
肖特基二极管
图层(电子)
纳米技术
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Atsunori Tanaka; Woojin Choi; Renjie Chen; Ren Liu; William Mook; et al 出版日期:2018-12-10 |
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