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 Effects of SiNx refractive index and SiO2 thickness on polarization‐type potential‐induced degradation in front‐emitter n‐type crystalline‐silicon photovoltaic cell modules SiNx折射率和SiO2厚度对前发射极n型晶体硅光伏组件极化型电位诱导退化的影响
相关领域
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硅
光电子学
分析化学（期刊）
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物理
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物理化学
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期刊：Energy Science & Engineering 作者：Seira Yamaguchi; Kyotaro Nakamura; Taeko Semba; Keisuke Ohdaira; Kazuhiro Marumoto; et al 出版日期：2022-03-31 |
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