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 Study on Total Ionizing Dose Effect of Silicon Carbide Metal Oxide Semiconductor Field-Effect Transistors at High and Low Dose Rates 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管在高低剂量率下的总电离剂量效应研究
相关领域
材料科学
碳化硅
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期刊：Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics 作者：Xiaojuan Pu; Ying Wei; Xiaolong Li; Haonan Feng; Xiaowen Liang; et al 出版日期：2022-05-01 |
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