标题 |
High-speed and wide-field nanoscale table-top ptychographic EUV imaging and beam characterization with a sCMOS detector
用sCMOS探测器进行高速宽视场纳米级桌面叠像EUV成像和光束表征
相关领域
光学
探测器
极紫外光刻
波前
帧速率
物理
材料科学
光电子学
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DOI | |
其它 |
期刊:Optics express 作者:Wilhelm Eschen; Chang Liu; Daniel Penagos Molina; Robert Klas; Jens Limpert; et al 出版日期:2023-04-14 |
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