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 An Experimental Evaluation of Fin Width and Low-Temperature Influence on GIDL in Stacked SOI Nanowires 翅片宽度和低温对堆叠SOI纳米线GIDL影响的实验评价
相关领域
纳米线
绝缘体上的硅
泄漏（经济）
材料科学
鳍
量子隧道
凝聚态物理
光电子学
工作温度
电气工程
物理
硅
复合材料
工程类
宏观经济学
经济
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期刊： 作者：Michelly de Souza; Jaime C. Rodrigues; Genaro Mariniello; M. Cassé; Sylvain Barraud; et al 出版日期：2022-06-06 |
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