Room-Temperature Hybrid Bonding of Via-middle TSV Wafer Fabricated by Direct Si/Cu Grinding and Residual Metal Removal

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标题	Room-Temperature Hybrid Bonding of Via-middle TSV Wafer Fabricated by Direct Si/Cu Grinding and Residual Metal Removal Si/Cu直接研磨去除残留金属制备通孔-中间TSV晶片的室温混合键合相关领域材料科学研磨薄脆饼直接结合晶片键合金属光电子学残余物复合材料冶金计算机科学算法
网址	https://doi.org/10.1109/ectc51529.2024.00358
DOI	10.1109/ectc51529.2024.00358 doi
其它	期刊：作者：Naoya Watanabe; Hiroshi Yamamoto; Takahiko Mitsui 出版日期：2024-05-28
求助人	懵懂的广缘在 2024-12-16 16:07:25 发布自湖北，悬赏 10 积分
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