| 标题 |
 A transfer length model for contact resistance of two-layer systems with arbitrary interlayer coupling under the contacts 任意层间耦合两层系统接触电阻的传递长度模型
相关领域
联轴节（管道）
材料科学
接触电阻
量子隧道
非线性系统
图层（电子）
二极管
输电线路
机械
凝聚态物理
复合材料
物理
光电子学
工程类
电气工程
量子力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Keh-Ching Huang; David B. Janes; Kevin J. Webb; M. R. Melloch 出版日期：1996-05-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
嘉心糖
薰硝壤
Emma
彭于彦祖
随机子
YL
hl
8R60d8
tianzml0
子车茗
梁朝伟
shinysparrow
HEIKU
寻道图强
嗯哼
陈军
不配.
坚强的广山
Singularity
tuanheqi
皖公网安备34019202002308
