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 Drain Current Drop in Oxide Semiconductor Thin-Film Transistors: The Mechanisms and a Solution 氧化物半导体薄膜晶体管漏极电流下降的机理及解决方法
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Guowei Chen; Min Guo; Xiaojie Li; Weiliang Wang; Fengjuan Liu; et al 出版日期：2022-04-13 |
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