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Modeling photon, electron, and chemical interactions in a model hafnium oxide nanocluster EUV photoresist
模拟氧化铪纳米团簇EUV光刻胶中的光子、电子和化学相互作用
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期刊: 作者:Patrick L. Theofanis; James M. Blackwell; Marie Krysak; Florian Gstrein 出版日期:2020-05-05 |
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