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Electrochemical Degradation Mechanism of Transparent Conductive Indium Tin Oxide Film in HCl Solution
透明导电氧化铟锡薄膜在HCl溶液中的电化学降解机理
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期刊:Journal of Applied Reliability 作者:Hina Farooq; Jae-Yeon Kim; Jai-Won Byeon 出版日期:2019-06-30 |
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