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Optimization of TSV Leakage in Via-Middle TSV Process for Wafer-Level Packaging
晶圆级封装过孔-中间TSV工艺中TSV泄漏的优化
相关领域
材料科学
通过硅通孔
炸薯条
薄脆饼
工艺优化
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期刊:Electronics 作者:Xuanjie Liu; Qizhen Sun; Yiping Huang; Zheng Chen; Guoan Liu; et al 出版日期:2021-09-29 |
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