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Threshold Voltage Instability in p-GaN Gate AlGaN/GaN HFETs
p-GaN栅极AlGaN/GaN HFET的阈值电压不稳定性
相关领域
材料科学
阈值电压
光电子学
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Luca Sayadi; Giuseppe Iannaccone; Sébastien Sicre; Oliver D. Häberlen; G. Curatola 出版日期:2018-04-27 |
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