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 Experimental and numerical study of the recovery softness and overvoltage dependence on p–i–n diode design P-I-N二极管设计中恢复软度和过电压依赖性的实验和数值研究
相关领域
过电压
二极管
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期刊： 作者：P. Cova; R. Menozzi; M. Portesine 出版日期：2006-05-01 |
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