标题 |
Comparative Study of Atomic Layer Deposited Indium-Based Oxide Transistors with a Fermi Energy Level-Engineered Heterojunction Structure Channel through a Cation Combinatorial Approach
原子层沉积铟基氧化物晶体管与费米能级异质结结构沟道的阳离子组合比较研究
相关领域
材料科学
光电子学
异质结
薄膜晶体管
AMOLED公司
图层(电子)
晶体管
纳米技术
有源矩阵
电气工程
工程类
电压
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其它 |
期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Min Hoe Cho; Cheol Hee Choi; Jae Kyeong Jeong 出版日期:2022-04-15 |
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