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 Quantitative HAADF STEM of SiGe in presence of amorphous surface layers from FIB preparation 在FIB制备的非晶表面层存在下SiGe的定量HAADF茎
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期刊：Ultramicroscopy 作者：Tim Grieb; M Tewes; Marco Schowalter; Knut Müller‐Caspary; Florian F. Krause; et al 出版日期：2017-10-14 |
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