标题 |
Breakdown Enhancement of AlGaN/GaN HEMTs on 4-in Silicon by Improving the GaN Quality on Thick Buffer Layers
通过改善厚缓冲层上的GaN质量增强4-in硅上AlGaN/GaN HEMT的击穿
相关领域
晶体管
缓冲器(光纤)
图层(电子)
阈值电压
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:S. L. Selvaraj; Takaaki Suzue; T. Egawa 出版日期:2009-04-28 |
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