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 Single-Exposure Optical Measurement of Highly Reflective Surfaces via Deep Sinusoidal Prior for Complex Equipment Production 复杂设备生产中高反射面的深正弦先验单曝光光学测量
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Informatics 作者：Jing Zhang; Bin Luo; Fuqian Li; Xingman Niu; Qican Zhang; et al 出版日期：2023-02-01 |
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