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 A Simulation Approach to Analyze Bridge-Defects in a 6T-SRAM Bit Cell 一种分析6T-SRAM位元胞桥接缺陷的仿真方法
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期刊：2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) 作者：Joydeep Ghosh; Shang Yi Lim; Ferdaus Md. Meftahul; J. Senthilnath; Aaron Thean 出版日期：2022-03-06 |
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