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 Ultrahigh Performance UV Photodetector by Inserting an Al2O3 Nanolayer in NiO/n‐Si 在NiO/n-Si中插入Al2O3纳米层的超高性能紫外光探测器
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光电探测器
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紫外线
光电子学
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钝化
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期刊：Advanced Electronic Materials 作者：Xingzhao Ma; Libin Tang; Menghan Jia; Yuping Zhang; Wenbin Zuo; et al 出版日期：2024-07-15 |
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