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In-situ R DS(on) Characterization and Lifetime Projection of GaN HEMTs Under Repetitive Overvoltage Switching
重复过压开关下GaN HEMTs的原位R DS(on)表征及寿命预测
相关领域
过电压
超调(微波通信)
计算机科学
拓扑(电路)
电气工程
工程类
电压
电信
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Ruizhe Zhang; Ricardo Alexandrino Garcia; Robert Strittmatter; Yuhao Zhang; Shengke Zhang 出版日期:2023-09-01 |
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