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Low temperature characterization of silicon CMOS devices
硅CMOS器件的低温表征
相关领域
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网址
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(97)00007-3
DOI
10.1016/s0026-2714(97)00007-3 doi
其它 期刊：Microelectronics Reliability
作者：G. Ghibaudo; F. Balestra
出版日期：1997-09-01
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包容的sakura 在 2025-03-10 17:19:26 发布自湖北，悬赏 10 积分
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