标题 |
Room-Temperature Hybrid Bonding of Via-middle TSV Wafer Fabricated by Direct Si/Cu Grinding and Residual Metal Removal
Si/Cu直接研磨去除残留金属制备通孔-中间TSV晶片的室温混合键合
相关领域
材料科学
研磨
薄脆饼
直接结合
晶片键合
金属
光电子学
残余物
复合材料
冶金
计算机科学
算法
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DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Naoya Watanabe; Hiroshi Yamamoto; Takahiko Mitsui 出版日期:2024-05-28 |
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