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 Identification and Structural Characterization of Twisted Atomically Thin Bilayer Materials by Deep Learning 基于深度学习的扭曲原子级薄双层材料的识别和结构表征
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期刊：Nano Letters 作者：Yang Hu; Ruiqi Hu; Heng Wu; X. Q. He; Yan Zhou; et al 出版日期：2024-02-26 |
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