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Impact of Body Doping and Thickness on the Performance of Germanium-Source TFETs
体掺杂和厚度对锗源TFET性能的影响
相关领域
锗
兴奋剂
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Sung Hwan Kim; Zachery A. Jacobson; Tsu‐Jae King Liu 出版日期:2010-06-07 |
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