标题 |
![]() 氮浓度对Ta/SiNx/Pt RRAM器件自顺应电阻开关的影响
相关领域
电阻随机存取存储器
悬空债券
材料科学
氮气
光电子学
CMOS芯片
导电体
电压
纳米技术
分析化学(期刊)
凝聚态物理
电气工程
化学
硅
复合材料
物理
工程类
有机化学
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:physica status solidi (a) 作者:Hai Xia Gao; Peng Jiang; Zhen Fei Zhang; Mei Yang; Xiao Hua; et al 出版日期:2018-06-20 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|